1. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials
رده :
QC443
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: / Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Physics,Surface and Interface Science, Thin Films,Surfaces and Interfaces, Thin Films,Physical Chemistry,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,Characterization and Evaluation of Materials
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)